Фирма-изготовитель: Лаборатория плазменной эмиссионной электроники ИСЭ СО РАН
Страна происхождения: Россия
Год выпуска: 2008
Вакуумная электронно-пучковая установка «СОЛО», в основе которой лежит электронный источник с плазменным катодом на основе импульсного дугового разряда низкого давления с сеточной стабилизацией границы катодной плазмы.
Установка полностью автоматизирована и позволяет управлять параметрами электронного источника, вакуумной системы и манипулятора при помощи компьютера. Использование плазменного катода позволяет плавно и независимо друг от друга изменять параметры генерации электронного пучка, что является одним из основных конкурентных преимуществ данного электронного источника. Низкие энергии электронов (до 25 кэВ), используемые в электронном источнике, не требуют дополнительной радиационной защиты, так как генерируемое рентгеновское излучение полностью задерживается стенками камеры, изготовленными из нержавеющей стали. По совокупности параметров (энергия электронов 5–25 кэВ, ток пучка 50–200 А, длительность импульса 10–200 мкс, частота следования импульсов тока пучка 1–10 с-1) данная установка превосходит зарубежные аналоги и может успешно использоваться для модификации поверхности различных материалов и изделий.
Габаритные размеры установки | 1350×2150×2000 мм |
Размеры вакуумной камеры | 600×500×400 мм |
Энергия электронов | 5–25 кэВ |
Длительность импульса тока пучка | 20–200 мкс |
Частота следования импульсов | до 10 с-1 |
Плотность энергии пучка | до 100 Дж/см2 |
Максимальная потребляемая мощность, в зависимости от используемого источника питания ускоряющего напряжения |
2–5 кВт |
Рабочее давление | 0.01–0.05 Па |
Рабочий газ | Ar; N2 |
Диаметр отпечатка | 1–3 см |
Размеры области сканирования манипулятора | 165×180 мм |
Расход воды в системе охлаждения не менее чем |
0.5 м3/ч |
Полировка, упрочнение металлов и сплавов, включая твердые карбидные сплавы типа WC-Co и TiC-NiCr; повышение коррозионной стойкости и износостойкости поверхности; обработка систем покрытие/подложка с возможностью перемешивания материала покрытия (толщиной ~ 1 мкм) с материалом подложки на глубину до 20 мкм; электронно-пучковая абляция материала мишени с возможностью нанесения покрытий.
Институт сильноточной электроники СО РАН, (ИСЭ СО РАН)
634055, г. Томск, пр. Академический 2/3
Заведующий лабораторией
плазменной эмиссионной электроники
АХМАДЕЕВ Юрий Халяфович
ahmadeev@opee.hcei.tsc.ru
+8 3822 491713
+7 923 408 6284